<sup id="qwweg"><source id="qwweg"></source></sup>
  • <xmp id="qwweg">
  • <menu id="qwweg"></menu>
  • <nav id="qwweg"><code id="qwweg"></code></nav>
    文章詳情

    公司到貨安捷倫i1000/Agilenti1000滿配兩臺,歡迎中得同行來調貨!

    • 產品名稱:公司到貨安捷倫i1000/Agilenti1000滿配兩臺,歡迎中得同行來調貨!
    • 產品型號:安捷倫i1000
    • 產品廠商:agilent
    • 產品文檔:
    你添加了1件商品 查看購物車
    簡單介紹
    安捷倫i1000在線測試系統 提供完整的在線測試功能,擁有與一般MDA相似 的接口,可與常用的MDA夾具相容, 使用方便,學習快速.同時又可使用安捷倫在線測試的各項*新技術,是性價比極高的產線檢測設備。

    公司到貨安捷倫i1000/Agilenti1000滿配兩臺,歡迎中得同行來調貨!

    的詳細介紹

     

    i1000在線測試介紹

    一、i1000在線測試系統

    1.完整的在線測試系統:

         (1)模擬測試

         (2)上電測試

         (3)數字測試

         (4)與MDA相似的用戶接口與夾具設計,方便使用,容易學習.

    2.全新抗干擾設計,使數字測試方便快速.

    3.使用安捷倫*新的在線測試技術方案. 

     

    二、安捷倫i1000系統的優勢

    優勢1 : a,治具結構簡單     b,系統維護容易

    優勢2 : 完整的測試涵蓋率

            VTEP v2.0       (無矢量測試)

             Digital Test    (數字測試)

             OBP             (在線燒錄)

             Bscan           (邊界掃描)

             Functional Test (功能測試)

             CET             (拓展測試)

    優勢3: 簡單易懂的用戶接口

    PS:安捷倫i1000在線測試系統 提供完整的在線測試功能,擁有與一般MDA相似 的接口,可與常用的MDA夾具相容, 使用方便,學習快速.同時又可使用安捷倫在線測試的各項*新技術,是性價比極高的產線檢測設備。

     

    三、 治具結構簡單

    1. i1000的壓床式治具與一般MDA所使用的壓床式治具兼容.

    (1)治具的投資可以不用浪費

    (2)治具可以從很多家治具廠獲得

    (3)人員的訓練不用重來

    2.i1000使用新的扁平電纜技術,在節省治具成本的同時可以提升數字測試的訊號質量,達到與真空治具相當的結果.

    3.i1000的數字測試采用每信道可調的設計相較于傳統的  

      機臺制作治具與程序的時間大約可以節省半天至**.

     

    、系統維護方便容易

                            

       單相電源即可啟動         系統可由前方開啟          無須真空磊浦

     

     

       拉拖式的系統架構                     方便組裝維修

     

    五、完整的測試涵蓋率

    VTEP v2.0 (無矢量測試) Digital Test    (數字測試) OBP (在線燒錄)

    Bscan     (邊界掃描)   Functional Test (功能測試) CET (覆蓋擴展測試)

    ·詳述每通道可調(Per-Pin Programmable)的好處

    (1)真正的1:1結構設計能夠讓i1000連續不斷的監控驅動邏輯。

    (2)每一組驅動邏輯電位都有一個接收電位。

    1.進行數字測試的時候,需要知道芯片那些管腳是3.3V, 哪些5V,或者2.5V,1.1V等等。

    2.每信道可調的數字測試系統,每個通道都可以被設定為任何邏輯準位,所以只要把電壓與接地點找出來,其余點都可以任意改變,如此對于做治具與程序的時間大約可以節省半天至**。

    3.每信道可調的數字測試系統還可以把任意的信道直接驅動為高電位(drive high)或者低電位(drive low),以便于調試。

    每通道可調(Per-Pin Programmable)每通道可調的好處–A節省系統成本,以其它廠商提供的數字測試卡來看 每片卡片支持64個通道 但只可設定兩種邏輯位準。

     

    問題:

    如果有10個管腳須同時進行數字測試, 但有 4組不同的邏輯位準設定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數字測試卡有64組通道請問總共需要幾張數字測試卡 ?

    如果不是每通道可調 : 將需要兩張數字卡總共需用128個數字通道來滿足10個通道的測試

    每通道可調的好處:i1000是唯壹具有這項優勢的壓床icti1000數字測試卡、提供 64組獨立可以調整的通道、64組準位與頻率都可以獨立調整。

    問題:

    如果有10個管腳須同時進行數字測試, 但有4組不同的邏輯訊號設定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數字測試卡有64組通道,請問總共需要幾張數字測試卡 ?

    答案:只需要一張i1000數字測試卡–減少花費 –治具制作較為簡單

     

    六、VTEP測試應用

    Agilent VTEP磚利技術的擴展版本可以用于:

    (1)超小型封裝

    (2)倒裝芯片

    (3)帶有*小或不帶引線框的器件

    (4)以及裝有熱散器的器件

    我們知道隨著PCBA上的器件封裝變得越來越小、越來越密集,電子制造商在檢測這些器件的信號針腳開路時,面臨的挑戰也與日俱增。另外,為使傳統程序庫適應生產測試,制造商還必須面對程序接入問題和產品上市所需時間(time-to-market)的壓力。鑒于此,越來越多的制造商更加傾向于采用無矢量測試解決方案,以*有效的方式保持*大的覆蓋范圍。

     

    七、在線燒錄OBP

    1.提供在線燒錄OBP(支持SPI格式及I2c格式)  透過i1000的圖形用戶界面

    可以輕易的進行在線刻錄程序設定。

    Connect A0 –A2 SDA SCL Function Address Inputs Serial Data Serial Clock Input I2C 介面使用 SDATA 及 SCLK 兩個輸入腳位,稱為 I2C Bus,所以支援 I2C 介面的 IC 必須提供這 2 個輸入腳位。SDATA 為串列資料的輸入腳位、SCLK 為資料輸入 的同步信號腳位。

     

     

    八、在線燒錄概念

    I2C IC ( EEPROM AT24C02) 由於是串列傳送資料,每一位元必須與 SCLK同步,以保證資料能正確地被接收。藉由 SDATA 與 SCLK 信號間的時序差異, SDATA 線上的信號可分為命令 (Command) 及資料 (Data) 兩類。 I2C 通訊協定基本上是由發送端傳送 START COMMAND 啟動,隨后為一連串的DATA,而在傳送每一筆DATA (BYTEWORD)后,接收端須回應一ACK信號以作確定。 *后發送端傳送STOP COMMAND作為結束 Start and Stop Definition SDA SCL 、START,STOP COMMANDDATA的區別 Output Acknowledge SCL 1 8 9 DATA IN DATA OUT START 、接收端回應ACK ACKNOWLEDGE MWIRE Serial EEPROM基本概念:MWIRE Serial EEPROM主要使用 Chip Select(CS)、Serial Clock(CLK)、Data In(DI)、 Data Out(DO) 四個腳位 ,EEPROM是以 93為編號開頭之IC,例如93C46、 93C66

     

    九、邊界掃描(Boundary-Scan) 

    2.完整的邊界掃描測試(Bscan Test)與其他功能測試

      測試 BSCAN 測試的條件 :

    (1)待測 IC 必須要支援 BSCAN 的測試 

    (2)支援 BSCAN 測試的 IC 都會有一個由 IC 制造廠商所提供的對應檔案 Boundary-Scan Description Language (BSDL)(IC的封裝語言描述)。

    基本在線邊界掃描測試(In-circuit Bscan Connect Tests)

    進階邊界掃描測試互連測試(Advance Interconnect Bscan Test)

     

     

    十、CET(Cover-Extend Technology)覆蓋擴展測試技術

    結合VTEP與邊界掃描的新技術: CET

     

    十一、覆蓋擴展技術(CET)是如何進行工作?

    1.VTEP 傳感器位于被測元件(例如連接器)上,它能夠根據電容特性選取激勵信號。 

    2.傳統的 VTEP 方法需要有測點(例如通過探針)來提供激勵信號。而覆蓋擴展技術則是依靠邊界掃描器件來提供激勵信號。 

    3.邊界掃描器件不需要每個引腳都放探針。 

    4.根據 IEEE 1149.x 標準(只使用測試接入端口),用戶可以向連接器提供必要的激勵信號。 

    5.邊界掃描器件和 VTEP 傳感器之間的路徑缺陷(例如開路)將影響傳送到傳感器的激勵信號。 

    6.ICT 系統對結果進行捕獲和診斷,因此會檢測到缺陷。 

     

    十二、覆蓋擴展優點(CET)

    1.廣泛的測試范圍,不需要測點 

    2.可節省夾具和 ICT 測試資源,降低測試成本 

    3.通過降低應力敏感型封裝(例如 BGA)上的應力,提高電路板質量 

     

    十三、Library與3070共享VCL/PCF數字測試文件

    Vector Control Language  向量控制語言(VCL).

    Pattern Capture Format   模式捕獲格式(PCF).

    是兩種3070用來描述digital library的語言.一般的數字測試需要使用預先設定好的數字測試文件(Digital LIB)以安捷倫3070所使用的PCF, VCL格式 編寫成的數字測試文件是目前世界上 數量*多的數字測試文件(累積超過20年)i1000可以直接使用這些文件

     

    十四、i1000 操作界面_可選英文或中文

     

    十五、i1000軟件: 程序發展及編輯界面

     

    十六、好用的數字調適接口

     

    十七、淺談產線常用的設備-MDA

    MDA :常用的產線測試設備。主要用來發現在生產流程中所產生的錯誤,比如在不同組件點 因為焊錫不佳 產生無法預期的”開路”  或”短路”,或者是測試出 錯誤的被動組件 比如 電阻 電容 電桿等組件,如果加上HP/Agilent磚利的Test Jet技術MDA還可以用來測試IC,或連接器上的pin腳開路.但是MDA無法偵測出下面的幾種狀況即使板子可以通過MDA的檢測 不代表這塊板子可以順利上電啟動運作 這主要是因為MDA不進行上電測試.對于BGA芯片底下的數百個 甚至上千個的錫球 在經過回焊爐后 是否與PC板焊接良好?目前MDA使用的Test Jet技術無法有效的測試BGA錫球的連接性對于覆晶BGA (Flip chip  BGA) Test Jet更是束手無策.

    對于高密度的連接器Test Jet的測試效果也不佳.

     

    十八、測試功能應用

    1.模擬測試(MDA)

    開短路、電阻、電容、二極體、三極體、光耦元件、電容三端測試、保護二極體測試。

    2.上電高壓量測

    量測待測物各個狀態下的220AC工作輸出。

    3.功能模擬遙控發碼測試

    模擬遙控發碼IR給待測物、從而控制待測試物的工作狀態。

    4.功能模擬溫度測試

    模擬溫度給待測試、從而達到待測物的工作條件。

    5.EEPROM 記憶測試

    測試待測物在任何時刻停止當前狀態、恢復后仍然是此工作狀態。

    6.顯示器功能測試

    測試待測物在各個顯示模式下的工作狀態及工作電壓。

    小×AV导航在线,老湿司机午夜福利在线看,奶白受1分44秒视频微博
    <sup id="qwweg"><source id="qwweg"></source></sup>
  • <xmp id="qwweg">
  • <menu id="qwweg"></menu>
  • <nav id="qwweg"><code id="qwweg"></code></nav>